サーマルサイクル試験
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半導体、電子部品などを高温及び低温の温度サイクルを繰り返すことにより試験サンプルへストレスを与え、温度変化による耐久性を短期間で確認する信頼性試験となります。
- 大きな温度変化の環境で使用される製品に対する耐久性試験
- はんだ実装品の接合強度及びクラック発生確認試験
当社が受託できるサービスは、一般的名称として温度サイクル試験、冷熱衝撃試験、熱衝撃試験、ヒートサイクル試験などと呼ばれる試験は受託可能。
サービス特徴サーマルサイクル試験
- -70℃〜300℃まで幅広い試験条件に対応可能。
- 連続モニタによる常時観察可能。
- 複数台の装置を保有しております。
- 長期専有での評価にも対応致します。
- 槽内サイズ：W410mm×H460mm×D370mm
サービスの強みサーマルサイクル試験
- 高温領域での試験が可能。（Max300℃）
- 抵抗値の常時モニタリングが可能。
- テスト基板作製から二次実装も対応。
- 試験後の不良箇所特定及び断面研磨での観察可能。
ご依頼例サーマルサイクル試験
- 基板設計から作製、二次実装、サーマルサイクル試験まで一貫したご依頼を頂きました。
- 不良箇所の特定と断面解析まで実施致しました。
- 2台の試験装置を使用し、400chまでの対応実績があります。
- 試験前後及び指定サイクル数でのSAT観察のご依頼を頂きました。
サーマルサイクル試験とは
サーマルサイクル試験とは、高温と低温のサイクルを繰り返すことにより、試験サンプルに熱ストレスを与え温度変化による耐久性を短期間で確認する信頼性試験です。尚、車載機器向けの高信頼性の要求に対応出来る装置を保有しておりますので、幅広い試験条件に対応可能です。また、連続モニタによる常時抵抗測定に対応しているため正確な故障発生サイクルを特定することが可能です。
サーマルサイクル試験の詳細
車載機器向けの高信頼性要求に対応出来る装置を保有しておりますので、幅広い試験条件に対応可能です。尚、連続モニタによる常時抵抗測定に対応しているため、正確な故障発生サイクルを特定することが可能です。
- -70℃〜300℃まで幅広い試験条件に対応可能。
- 連続モニタによる常時観察可能。
- 複数台の装置を保有しております。
- 長期専有での評価や装置貸与にも対応致します。
- 槽内サイズ：W410mm×H460mm×D370mm
- チャンネル数：Max480ch
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サーマルサイクル試験 環境試験機 -
サーマルサイクル試験の作業エリア -
サーマルサイクル試験 装置モニター
よくある質問
- 試験費用を教えてください。
- 試験条件により異なる為、都度見積とさせて頂いております。問合せフォームより試験条件、測定数量をご連絡ください。
- テスト基板を準備頂く事は可能ですか？
- 弊社では基板設計から作製まで対応可能です。
- サンプル数は何個から対応可能ですか？
- 1個から試験対応致します。
評価用サンプル及び評価用基板の作製から二次実装まで対応致します。
また、試験後の観察（X線観察、SAT観察、断面研磨 / 観察（イオンミリング可）、SEM観察）を行う事も可能です。
その他環境試験（パワーサイクル試験、高温バイアス試験、高温高湿試験、HAST試験、高温低温放置試験など）も受託しております。
基板作成から二次実装、不良解析までトータルでのサービスをご提供致します（一般的名称として温度サイクル試験、冷熱衝撃試験、熱衝撃試験、ヒートサイクル試験などと呼ばれる試験は受託可能）。
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