HAST/プレッシャークッカー試験
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HAST試験は、半導体及び電子部品の耐湿性を加速評価いたします。試験槽内を高温高湿環境にし、試験サンプルにストレスを与え、腐食及びマイグレーション発生による故障・寿命評価を確認する信頼性試験です。 当社が受託できるサービスは、一般的な試験名称として、高温高湿試験やHAST試験、プレッシャークッカー試験、高加速寿命試験、耐湿性試験、耐温湿度試験、マイグレーション試験などと言われています。
サービス特徴HAST/プレッシャークッカー試験
- 高温高湿条件にて実施可能（105〜162.2℃、75〜100%）
- 槽内サイズ：φ350mm×L428mm
W355mm×H355mm×L426mm - バイアス：100V
- チャンネル数：150ch
サービスの強みHAST/プレッシャークッカー試験
- 評価用基板の準備からHAST試験及びプレッシャークッカー試験まで対応可能です。
- 連続モニターで絶縁抵抗値を観察し、問題が発生した時間を特定することが可能です。
ご依頼例HAST/プレッシャークッカー試験
- 櫛形配線パターンを使用した評価のご依頼を頂きました。
- 櫛形配線基板の作製依頼を頂きました。
- 絶縁材料の評価を行うための試験を実施いたしました。
- ウィスカ現象の観察を実施いたしました。
- 櫛形配線パターンTEGチップを準備し、評価用サンプルを作製致しました。
- 配線パターン例：L/S=1.8μm/2.2μm、10μm/10μm
HAST/プレッシャークッカー試験とは
試験槽内を密封し、高温高湿条件にてサンプルにストレスを与え、腐食発生やイオンマイグレーション発生による故障について寿命評価を行います。尚、絶縁抵抗測定器での連続モニターで不良発生時間等の確認もできます。
HAST/プレッシャークッカー試験の詳細
飽和条件下（湿度100%）及び不飽和条件（湿度85%）での試験に対応しております。絶縁抵抗値を連続モニターする事により、不良発生時間を確認する事ができます。パッケージ単体から基板実装品まで測定対応致します。
- 高温高湿条件にて実施可能（105〜162.2℃、75〜100%）
- 槽内サイズ：φ35mm×L428mm、W355mm×H355mm×L426mm
- バイアス：100V
- チャンネル数：30ch
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環境試験機 -
よくある質問
- 試験費用を教えてください。
- 試験条件により異なる為、都度見積とさせて頂いております。問合せフォームより試験条件（温度、湿度、時間、電圧）、測定数量、サンプルサイズをご連絡ください。
- 櫛形配線パターンを形成したテスト基板を準備頂く事は可能ですか？
- 弊社では基板設計から作製まで対応可能です。
- 連続モニタはMax何チャンネルまで対応可能ですか？
- Max150chまで対応可能です。
評価用サンプル及び評価用基板の作製から二次実装まで対応致します。
また、試験後の観察（X線観察、SAT観察、断面研磨 / 観察（イオンミリング可）、SEM観察）を行う事も可能です。
その他環境試験（パワーサイクル試験、高温バイアス試験、高温高湿試験、HAST試験、高温低温放置試験など）も受託しております。
基板作成から二次実装、不良解析までトータルでのサービスをご提供致します。
対応できる試験・測定が幅広いことが当社の強みです。お客様のニーズに合わせて試験を行うことが可能です。（一般的名称として高温高湿試験やHAST試験、プレッシャークッカー試験、高加速寿命試験、耐湿性試験、耐温湿度試験、マイグレーション試験などと呼ばれる試験は受託可能）
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